一種具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的VDMOS器件及其制作方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810162803.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN108365010A | 公開(kāi)(公告)日 | 2018-08-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108365010A | 申請(qǐng)公布日 | 2018-08-03 |
分類號(hào) | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王海韻;儲(chǔ)團(tuán)結(jié);叢艷欣;李亞娜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 天津中科先進(jìn)技術(shù)產(chǎn)業(yè)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 天津市尚文知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張東浩 |
地址 | 300392 天津市濱海新區(qū)高新區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)(環(huán)外)海泰發(fā)展六道3號(hào)星企一號(hào)創(chuàng)新工場(chǎng)研發(fā)中心301 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的VDMOS器件及其制作方法,涉及半導(dǎo)體集成電路技術(shù)領(lǐng)域,包括:N型襯底、N+區(qū)、P?體區(qū)、PN交替超結(jié)區(qū)、N+源區(qū)、柵極氧化層、多晶硅柵極、介質(zhì)層隔離、器件源極金屬和器件漏極金屬。N+區(qū)的內(nèi)表面向中央?yún)^(qū)延伸為P?體區(qū),PN交替超結(jié)區(qū)位于N+區(qū)的中央?yún)^(qū)的兩側(cè)、N+區(qū)與P?體區(qū)之間,P?體區(qū)的上表面與PN交替超結(jié)區(qū)相連接處設(shè)有N+源區(qū)。該技術(shù)方案通過(guò)采用多層結(jié)構(gòu)的PN交替超結(jié)區(qū),提高了VDMOS器件單位面積內(nèi)耐壓能力,將傳統(tǒng)MOS器件的漏極與源極之間間隔的外延層內(nèi)部引入高摻雜的N+區(qū),降低了外延層的電阻率,進(jìn)而減小了VDMOS器件導(dǎo)通電阻,進(jìn)而緩解了現(xiàn)有技術(shù)存在的結(jié)構(gòu)耐壓程度差、導(dǎo)通電阻大的技術(shù)問(wèn)題。 |
