一種微陣列芯片激光共焦掃描儀的校準方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010576829.1 申請日 -
公開（公告）號 CN111751339A 公開（公告）日 2020-10-09
申請公布號 CN111751339A 申請公布日 2020-10-09
分類號 G01N21/64(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吉鋒;張冠斌;宋馳騁;李婷;鄒凌;尹維 申請（專利權）人 成都博奧晶芯生物科技有限公司
代理機構 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 代理人 成都博奧晶芯生物科技有限公司;成都博奧獨立醫(yī)學實驗室有限公司
地址 611135四川省成都市溫江區(qū)永寧鎮(zhèn)八一路北段88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種微陣列芯片激光共焦掃描儀的校準方法：步驟1、對標準機和被校儀器的熒光校準通道設置掃描參數，對同一校準芯片進行掃描，得到一組標準數據和待測數據；步驟2、計算該組數據的線性相關系數和斜率；步驟3、更改參數重復步驟1和步驟2共N次，得到N組的線性相關系數和斜率；步驟4、根據每組數據的線性相關系數，得到符合修正條件的組數M；步驟5；判斷符合步驟4修正條件的組數的斜率，得到數據是否符合修正條件的組數L，符合則計算L組數據的斜率均值；步驟6、將斜率均值作為修正值，完成該通道的校準；步驟7、更換熒光通道重復步驟1～6，完成多通道的校準。本發(fā)明校準方法提高校準數據量，校準覆蓋面更廣。??