用于數(shù)字線劃圖的數(shù)據(jù)質檢方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110712930.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113393450A 公開（公告）日 2021-09-14
申請公布號 CN113393450A 申請公布日 2021-09-14
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I;G06T17/00（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 何玉生;楊江川;儲飛龍;凌志超 申請（專利權）人 杭州今奧信息科技股份有限公司
代理機構 杭州裕陽聯(lián)合專利代理有限公司 代理人 楊琪宇
地址 311100浙江省杭州市余杭區(qū)倉前街道文一西路1338號A幢602-603室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種用于數(shù)字線劃圖的數(shù)據(jù)質檢方法、系統(tǒng)及可讀存儲介質，其中方法包括以下步驟：獲取基礎模型數(shù)據(jù)和矢量成果數(shù)據(jù)；基于所述矢量成果數(shù)據(jù)生成若干個待質檢數(shù)據(jù)，所述待質檢數(shù)據(jù)為墻角點或墻線；分別對每個待質檢數(shù)據(jù)進行質檢，質檢步驟為：從所述基礎模型數(shù)據(jù)中提取與所述待質檢數(shù)據(jù)相對應的特征數(shù)據(jù)，并基于所述特征數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)擬合，生成與所述待質檢數(shù)據(jù)相對應的參考數(shù)據(jù)；將所述待質檢數(shù)據(jù)與相應的參考數(shù)據(jù)相比對，生成相應的對比結果?，F(xiàn)今往往人工手動對矢量成果數(shù)據(jù)進行質檢，本發(fā)明所提出的數(shù)據(jù)質檢方法能夠自動對矢量成果數(shù)據(jù)進行質檢，提高質檢效率并降低人力成本。