用于集成電路的芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120361101.7 申請日 -
公開（公告）號 CN215263843U 公開（公告）日 2021-12-21
申請公布號 CN215263843U 申請公布日 2021-12-21
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭興義 申請（專利權(quán)）人 江蘇芯豐集成電路有限公司
代理機構(gòu) 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 王健
地址 224015江蘇省鹽城市鹽都區(qū)張莊街道康莊大道雙創(chuàng)園綜合體1#廠房（G）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種用于集成電路的芯片測試系統(tǒng)，包括基板和芯片檢測電路板，所述芯片檢測電路板通過螺釘安裝在基板的頂部，所述基板的底部通過螺釘安裝有步進電機，所述步進電機的活動端貫穿基板的表面并延伸至基板的上方，所述步進電機的活動端通過聯(lián)軸器固定安裝有固定軸，所述固定軸的一端通過螺釘安裝有第一支撐板，所述直線電機的上方設(shè)有位置對應(yīng)的長條凹型板，所述長條凹型板的一端與輸送皮帶連通，所述長條凹型板的表面開設(shè)有長條孔，所述連接塊的另一端通過螺釘安裝有推板，所述推板的底部沿著長條凹型板的內(nèi)壁滑動。本實用新型既能夠節(jié)省上料人力，又可以保證上料的連續(xù)性，進而提高芯片輸送的便捷性和效果。