一種X線平板探測器圖像壞線的修補(bǔ)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310441747.6 申請日 -
公開（公告）號 CN104463831B 公開（公告）日 2019-07-09
申請公布號 CN104463831B 申請公布日 2019-07-09
分類號 G06T7/00（2017.01）I; G06T5/00（2006.01）I; G06T5/20（2006.01）I; A61B6/03（2006.01）N 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 趙明 申請（專利權(quán)）人 深圳市藍(lán)韻實(shí)業(yè)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳冠華專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 諸蘭芬
地址 518000 廣東省深圳市福田區(qū)景田路碧景園E棟408-413室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種X線平板探測器圖像壞線的修補(bǔ)方法，其包括步驟：計(jì)算X線平板探測器圖像中壞線區(qū)域的異常度；當(dāng)異常度大于預(yù)設(shè)的第一閾值時(shí)，進(jìn)一步判斷異常度是否大于預(yù)設(shè)的第二閾值，若是，忽略X線平板探測器圖像壞線中各像素點(diǎn)的像素值，通過壞線坐標(biāo)周圍的非損壞像素區(qū)域，在壞線垂直方向使用插值平滑法對圖像進(jìn)行處理，得到最終的修補(bǔ)圖像，否則，進(jìn)一步檢測壞線內(nèi)平行于壞線方向的明顯的邊緣，對邊緣進(jìn)行曲線擬合，并經(jīng)過插值及平滑處理得到最終的修補(bǔ)圖像。本發(fā)明無需修改X線平板探測器的參數(shù)，又充分利用了壞線區(qū)域的有效像素值，達(dá)到了較好的修復(fù)效果，并保留了X光圖像的有效診斷信息，對提高診斷具有積極意義。