探針及集成電路測(cè)試設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202122307831.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN216411367U 公開(kāi)（公告）日 2022-04-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN216411367U 申請(qǐng)公布日 2022-04-29
分類號(hào) G01R1/067（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 段超毅;蔣偉;周闖 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳凱智通微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市恒程創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 苗廣冬
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道稔田社區(qū)稔田工業(yè)區(qū)第14棟第二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提出一種探針及集成電路測(cè)試設(shè)備，所述探針包括由上到下依次設(shè)置的第一接觸段，連接段和第二接觸段，所述第一接觸段上端用于接觸測(cè)試IC，所述第二接觸段下端用于接觸測(cè)試PCB；所述第一接觸段、所述連接段、所述第二接觸段一體化設(shè)置，所述第一接觸段形成有接觸斜面，所述接觸斜面由上至下朝內(nèi)傾斜設(shè)置，所述接觸斜面用于與所述測(cè)試IC的錫球接觸，所述第二接觸段可在豎直方向上發(fā)生彈性形變。如此，本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中阻抗較大，各探針之間阻抗較大、一致較差等問(wèn)題。