探針及集成電路測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122292198.3 申請日 -
公開（公告）號 CN216411479U 公開（公告）日 2022-04-29
申請公布號 CN216411479U 申請公布日 2022-04-29
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/067（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 段超毅;蔣偉;周闖 申請（專利權(quán)）人 深圳凱智通微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市恒程創(chuàng)新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張小容
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道稔田社區(qū)稔田工業(yè)區(qū)第14棟第二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提出一種探針及集成電路測試設(shè)備，所述探針包括由上到下依次設(shè)置的第一接觸段、連接段和第二接觸段，所述第一接觸段上端用于連接測試IC，所述第二接觸段下端用于連接測試PCB；所述探針為彈性件，且所述探針具有初始位置和形變位置；其中，所述第二接觸段或者所述連接段呈C形件設(shè)置，所述C形件缺口處設(shè)置有第一自由端和第二自由端，當(dāng)所述探針處于初始位置時，所述第一自由端和所述第二自由端存在間隙；當(dāng)所述探針處于形變位置時，所述第一自由端和所述第二自由端接觸。如此，本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中，集成電路測試用探針存在阻抗較大的問題。