一種芯片檢測用升降裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821849125.1 申請日 -
公開（公告）號 CN209069985U 公開（公告）日 2019-07-05
申請公布號 CN209069985U 申請公布日 2019-07-05
分類號 G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘泱 申請（專利權(quán)）人 蘇州奧普特克自動化科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 215500 江蘇省蘇州市常熟經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)四海路11號科創(chuàng)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片檢測用升降裝置，包括升降裝置機架、氣缸、導(dǎo)向套管、導(dǎo)向柱、滑槽、滾珠、抬升板；升降裝置機架為一個長方體外框，升降裝置機架上端開口，升降裝置機架中段前后側(cè)各自設(shè)有一排滑槽；滑槽內(nèi)排入滾珠；升降裝置機架內(nèi)側(cè)底端中央位置設(shè)有氣缸；氣缸的氣缸桿連接抬升板，抬升板在氣缸桿的作用下在升降裝置機架上端開口到滑槽所在平面之間的范圍內(nèi)升降；導(dǎo)向套管設(shè)置在升降裝置機架內(nèi)側(cè)底端；導(dǎo)向柱設(shè)置在抬升板下表面；導(dǎo)向柱一端伸入導(dǎo)向套管內(nèi)；升降裝置機架前后垂直面位于滑槽下方開出第一通槽；升降裝置機架左右垂直面位于滑槽上方開出第二通槽。本實用新型能夠?qū)崿F(xiàn)芯片自動抬升到檢測工位。