一種測量平面與基準對稱度的測具及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110006244.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112611304A 公開（公告）日 2021-04-06
申請公布號 CN112611304A 申請公布日 2021-04-06
分類號 G01B5/25(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黃強;王斌;馮永星;魏琛;張磊;馮全全;李敏 申請（專利權）人 西安西航集團萊特航空制造技術有限公司
代理機構 西安新思維專利商標事務所有限公司 代理人 李罡
地址 710021陜西省西安市未央?yún)^(qū)鳳城十二路一號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及航空零件加工技術領域，具體涉及一種測量平面與基準對稱度的測具及測量方法。其直接測量平面與基準的對稱度，測量精度高，可提高測量效率，避免或減小用其他測量方法帶來的測量誤差，使測量平面與基準對稱度的測量更加精確，檢測更加高效。本發(fā)明采用的技術方案包括矩形的測具底座，底座左右對稱設置有第一L型塊和第二L型塊，測具底座上部左右對稱設置有支撐螺釘一和支撐螺釘二，所述的支撐螺釘一和支撐螺釘二的頂部分別設置有第一壓板和第二壓板，所述的第一L型塊和第二L型塊的中間測具底座上設置有導套，支撐螺釘一和支撐螺釘二中間的測具底座上設置有測量塊，測量塊與導套設置于一條軸線上，并采用一定的測量方法進行測量。??