一種基于深度學(xué)習(xí)的絕緣子缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110507178.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113205502A 公開(kāi)（公告）日 2021-08-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN113205502A 申請(qǐng)公布日 2021-08-03
分類號(hào) G06T7/00;G06T7/73;G01N21/88;G01N21/95;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T3/40 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 邢雅軒;白戈;候靜;張穎慧 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 內(nèi)蒙古塔塔送變電工程有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京卓特專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 段旺
地址 010021 內(nèi)蒙古自治區(qū)呼和浩特市大學(xué)西路235號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于深度學(xué)習(xí)的絕緣子缺陷檢測(cè)方法及其系統(tǒng)，其中基于深度學(xué)習(xí)的絕緣子缺陷檢測(cè)方法包括如下步驟：在輸入圖片中進(jìn)行絕緣子的定位識(shí)別；對(duì)定位識(shí)別后的絕緣子進(jìn)行輸入圖片的絕緣子缺陷檢測(cè)處理；對(duì)缺陷檢測(cè)處理后的輸入圖片進(jìn)行處理，得到完整的缺陷檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)能夠利用圖像分塊方法與M2Det模型相結(jié)合的絕緣子缺陷檢測(cè)算法，提高了檢測(cè)算法的精度和魯棒性。