用于阻性存儲單元的測試結(jié)構(gòu)及耐久性測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811424807.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111223518B 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN111223518B 申請公布日 2021-08-20
分類號 G11C29/50 分類 信息存儲;
發(fā)明人 何世坤;楊曉蕾;竹敏;任云翔 申請（專利權(quán)）人 浙江馳拓科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京蘭亭信通知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙永剛
地址 311121 浙江省杭州市余杭區(qū)文一西路1500號1幢311室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種用于阻性存儲單元的測試結(jié)構(gòu)及耐久性測試方法。所述測試結(jié)構(gòu)包括：多個(gè)待測阻性存儲單元，每個(gè)待測阻性存儲單元分別連接有一個(gè)可控開關(guān)器件，每個(gè)待測阻性存儲單元的第一連接端接于一點(diǎn)，共同連接至第一測試電極，每個(gè)待測阻性存儲單元的第二連接端分別連接至對應(yīng)的可控開關(guān)器件的第一連接端，每個(gè)可控開關(guān)器件的第二連接端接于一點(diǎn)，共同連接至第二測試電極，每個(gè)可控開關(guān)器件的控制端分別連接至各自的控制信號電極，其中，第一測試電極和第二測試電極用于輸入讀寫信號，各控制信號電極用于輸入可控開關(guān)器件的控制信號。本發(fā)明能夠節(jié)省版圖面積，提高測試效率，節(jié)省測試時(shí)間。