角度檢測方法、設備、計算機程序產(chǎn)品及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111104512.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113970312A | 公開(公告)日 | 2022-01-25 |
申請公布號 | CN113970312A | 申請公布日 | 2022-01-25 |
分類號 | G01B21/22(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陳永澤;霍紫健;楊軍杰;戰(zhàn)航 | 申請(專利權)人 | 深圳市恒天偉焱科技股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市恒程創(chuàng)新知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 劉冰 |
地址 | 518108廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道塘頭社區(qū)塘頭第一工業(yè)區(qū)廠房5棟2樓東 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了角度檢測方法、設備、計算機程序產(chǎn)品及存儲介質(zhì),該方法包括:獲取待檢測設備的初始方向值,并控制驅(qū)動電機轉(zhuǎn)動預設角度,其中,所述驅(qū)動電機用于驅(qū)動所述待檢測設備進行同步轉(zhuǎn)動;在所述驅(qū)動電機轉(zhuǎn)動所述預設角度后,獲取所述待檢測設備的當前方向值;確定所述預設角度對應的所述待檢測設備的目標方向值;根據(jù)所述目標方向值、所述初始方向值以及所述當前方向值,確定所述待檢測設備的檢測結(jié)果的技術方案,解決現(xiàn)有技術中由于待檢測設備受磁場干擾的原因?qū)е伦x取數(shù)據(jù)存在誤差的問題,通過本申請方案提高了待檢測設備的測量精度。 |
