近紅外光譜分析儀及其分辨率的校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810162548.0 申請日 -
公開（公告）號 CN101413884B 公開（公告）日 2010-12-22
申請公布號 CN101413884B 申請公布日 2010-12-22
分類號 G01N21/35(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王健;周新奇;葉華俊;馮紅年 申請（專利權(quán)）人 北京聚光世達科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種近紅外光譜分析儀分辨率的校正方法，包括以下步驟：a、設(shè)定步驟，設(shè)定光譜儀的目標(biāo)分辨率及分辨率公差范圍；b、調(diào)節(jié)和處理步驟，使用光譜儀掃描得到標(biāo)準(zhǔn)光源光譜，調(diào)節(jié)光譜儀使其分辨率處在分辨率公差范圍內(nèi)；依據(jù)目標(biāo)分辨率處理標(biāo)準(zhǔn)光源的光譜，得到分辨率校正信息并儲存，校正信息可將標(biāo)準(zhǔn)光源光譜的分辨率校正至目標(biāo)分辨率；c、分辨率校正步驟，利用分辨率校正信息處理樣本吸收光譜，將樣本吸收光譜的分辨率校正到目標(biāo)分辨率；從而將不同近紅外光譜分析儀的分辨率校正至相同。本發(fā)明還公開了一種近紅外光譜分析儀。本發(fā)明具有工作量小、穩(wěn)健可靠、方便實用等優(yōu)點，可廣泛應(yīng)用在近紅外光譜分析中。