一種物質(zhì)分析系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010563241.9 申請日 -
公開（公告）號 CN102095691A 公開（公告）日 2011-06-15
申請公布號 CN102095691A 申請公布日 2011-06-15
分類號 G01N21/25(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉華俊;楊鐵軍 申請（專利權(quán)）人 北京聚光世達科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種物質(zhì)分析系統(tǒng)，包括：光源，發(fā)出參比光、第一測量光和第二測量光；容器，用于在測量液體時盛裝待測液體；第一反射裝置，用于分別反射參比光和第一測量光，第一反射裝置設(shè)置在待測固體的一側(cè)；第一測量光在被第一反射裝置反射前或反射后穿過所述容器；移動裝置，用于在測量待測固體時移開所述第一反射裝置，而使第二測量光照射到待測固體上；探測器，用于分別接收參比光、穿過待測液體后的第一測量光和被待測固體反射后的第二測量光，并分別轉(zhuǎn)換為參比信號、第一測量信號和第二測量信號；分析單元，用于處理探測器傳送來的信號，從而獲知待測液體和待測固體的參數(shù)。本發(fā)明具有適用性好、結(jié)構(gòu)簡單、可靠性高、成本低等優(yōu)點。