一種三維掃描儀掃描測(cè)量的輔助工具

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201420678029.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN204202572U 公開（公告）日 2015-03-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN204202572U 申請(qǐng)公布日 2015-03-11
分類號(hào) G01B11/24(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 常青;王金葵;陳國(guó)建;張磊;羅振 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 天津敏捷云科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津?yàn)I?？凭曋R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李震勇
地址 300384 天津市濱海新區(qū)空港經(jīng)濟(jì)區(qū)航天路77號(hào)院技術(shù)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種三維掃描儀掃描測(cè)量的輔助工具，所述輔助工具包括多個(gè)矩形且大小相同的定位基板，每個(gè)定位基板的正表面上規(guī)則排布有多個(gè)定位標(biāo)點(diǎn)。利用此工具，可以不用隨著被測(cè)量零件尺寸的變化，不斷的粘貼或者清理定位標(biāo)點(diǎn)。僅通過調(diào)整輔助定位基板的位置，合理布置出能夠滿足被測(cè)零件的輔助環(huán)境。當(dāng)輔助定位基板布局調(diào)整完畢后，可使用三維掃描儀附帶的定位標(biāo)點(diǎn)測(cè)量手段，進(jìn)行先期的定位標(biāo)點(diǎn)空間坐標(biāo)的采集工作，當(dāng)完成上述操作后，可進(jìn)行最后的點(diǎn)云采集工作。