一種三維掃描儀掃描測量的輔助工具及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410640873.9 申請日 -
公開（公告）號 CN104374332A 公開（公告）日 2015-02-25
申請公布號 CN104374332A 申請公布日 2015-02-25
分類號 G01B11/24(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 常青;王金葵;陳國建;張磊;羅振 申請（專利權(quán)）人 天津敏捷云科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 天津濱?？凭曋R產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李震勇
地址 300384 天津市濱海新區(qū)空港經(jīng)濟(jì)區(qū)航天路77號院技術(shù)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明創(chuàng)造提供一種三維掃描儀掃描測量的輔助工具及測量方法，所述輔助工具包括多個矩形且大小相同的定位基板，每個定位基板的正表面上規(guī)則排布有多個定位標(biāo)點。利用此工具，可以不用隨著被測量零件尺寸的變化，不斷的粘貼或者清理定位標(biāo)點。僅通過調(diào)整輔助定位基板的位置，合理布置出能夠滿足被測零件的輔助環(huán)境。當(dāng)輔助定位基板布局調(diào)整完畢后，可使用三維掃描儀附帶的定位標(biāo)點測量手段，進(jìn)行先期的定位標(biāo)點空間坐標(biāo)的采集工作，當(dāng)完成上述操作后，可進(jìn)行最后的點云采集工作。