測試適配器及其制作方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111460551.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113884861A 公開（公告）日 2022-01-04
申請公布號 CN113884861A 申請公布日 2022-01-04
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R3/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李鵬飛;霍風祥;李彥青;孫艷麗 申請（專利權(quán)）人 北京京瀚禹電子工程技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京細軟智谷知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 代理人 劉曉丹
地址 102200北京市昌平區(qū)沙河鎮(zhèn)松蘭堡村西海特光電院內(nèi)辦公樓1層102室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種測試適配器及其制作方法，所述測試適配器包括測試工裝殼體和ATE機臺，ATE機臺的頂面上設(shè)有PCB板，測試工裝殼體設(shè)置在PCB板上；測試工裝殼體通過3D打印機打印成型；測試工裝殼體包括上殼體和下殼體，上殼體和下殼體通過軸鉸接；下殼體底面穿設(shè)有金屬探針，金屬探針一端與PCB板連接；上殼體下壓下殼體時使得金屬探針與被測芯片連接；本發(fā)明提供的測試適配器，通過3D打印機打印成型的方法進行制作，可以解決測試適配器制作周期較長的問題，除此之外，還能夠有效降低生產(chǎn)成本。