片上天線測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011322662.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112557769A 公開(公告)日 2021-03-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN112557769A 申請(qǐng)公布日 2021-03-26
分類號(hào) G01R29/10(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 卜景鵬;東君偉;蘇棟材;吳嘉華 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中山香山微波科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳瑞天謹(jǐn)誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 楊龍
地址 528437廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)祥興路6號(hào)數(shù)貿(mào)大廈南冀4層412卡
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種片上天線測(cè)試系統(tǒng)及其實(shí)施的測(cè)試方法,其中,測(cè)試系統(tǒng)包括具有安裝法蘭的伺服機(jī)構(gòu)、激光測(cè)距儀、測(cè)試探頭及探針臺(tái),所述探針臺(tái)用于放置待測(cè)天線,所述激光測(cè)距儀用于設(shè)置在伺服機(jī)構(gòu)的安裝法蘭上被伺服機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)獲取待測(cè)天線與激光測(cè)距儀之間的距離以供獲取待測(cè)天線的本地坐標(biāo)系,所述測(cè)試探頭用于替換激光測(cè)距儀安裝于安裝法蘭上對(duì)待測(cè)天線進(jìn)行掃描測(cè)試。通過(guò)采用激光測(cè)距儀獲取待測(cè)天線的距離,得到待測(cè)天線的精確的幾何位置,進(jìn)而可建立待測(cè)天線的本地坐標(biāo)系及掃描坐標(biāo)系,測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及操作簡(jiǎn)單,有利于提高校準(zhǔn)效率,降低成本。??