片上天線測試系統(tǒng)及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011322627.0 申請日 -
公開（公告）號 CN112557768A 公開（公告）日 2021-03-26
申請公布號 CN112557768A 申請公布日 2021-03-26
分類號 G01R29/10(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 卜景鵬;東君偉;喬梁;余念 申請（專利權(quán)）人 中山香山微波科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳瑞天謹(jǐn)誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 楊龍
地址 528437廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)祥興路6號數(shù)貿(mào)大廈南冀4層412卡
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種片上天線測試系統(tǒng)及其實施的測試方法，其中，測試系統(tǒng)包括：探針臺、伺服機構(gòu)、三維成像裝置及測試探頭，所述探針臺用于放置待測天線，所述三維成像裝置用于設(shè)置在伺服機構(gòu)上被伺服機構(gòu)驅(qū)動獲取待測天線的圖像以供獲取待測天線的本地坐標(biāo)系，所述測試探頭用于替換三維成像裝置安裝于伺服機構(gòu)上對待測天線進行掃描測試。通過采用三維成像裝置對待測天線進行圖像獲取，得到待測天線的精確的幾何位置，進而可建立待測天線的本地坐標(biāo)系及掃描坐標(biāo)系，測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及操作簡單，有利于提高校準(zhǔn)效率，降低成本。??