一種激光芯片老化裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021281160.5 申請日 -
公開（公告）號 CN212622929U 公開（公告）日 2021-02-26
申請公布號 CN212622929U 申請公布日 2021-02-26
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顏小偉;昝國驥;李少華;鄧衛(wèi)華 申請（專利權(quán)）人 武漢永力睿源科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京高沃律師事務(wù)所 代理人 韓雪梅
地址 430205湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)流芳園南路19號永力產(chǎn)業(yè)園二樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種激光芯片老化裝置，涉及芯片測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，主要結(jié)構(gòu)包括底板、恒溫水路系統(tǒng)和頂針機(jī)構(gòu)；恒溫水路系統(tǒng)包括水冷板，所述水冷板前側(cè)面上部設(shè)置有限位座，所述限位座用于限定待測芯片位置，所述水冷板前側(cè)面下部設(shè)置有多個積分球，頂針機(jī)構(gòu)用于壓緊待測芯片，并給芯片通電，從而實現(xiàn)快速裝夾、整體測試，以提高測試效率，并能夠通過恒溫水路系統(tǒng)使待測芯片保持恒溫，符合老化芯片的溫度要求。??