一種用于低能放射性同位素的檢測電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420025064.2 申請日 -
公開（公告）號 CN203705647U 公開（公告）日 2014-07-09
申請公布號 CN203705647U 申請公布日 2014-07-09
分類號 G01T1/20(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 方克明;張中良;龔韜;徐旭輝;朱松茂;徐鵬程;吳松年 申請（專利權(quán)）人 中廣核貝谷儀器科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所 代理人 上海欣科醫(yī)藥有限公司;上海貝谷儀器科技有限公司
地址 201108 上海市閔行區(qū)莘莊工業(yè)區(qū)春東路528號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種用于低能放射性同位素的檢測電路，其中，低能放射性同位素放射的射線打到閃爍體后，能量被閃爍體吸收，轉(zhuǎn)換為一定波長的光子，光子經(jīng)光電倍增管放大后，變成電荷脈沖，所述檢測電路包括：與光電倍增管相連用于對所述光電倍增管輸出的電荷脈沖進(jìn)行放大的放大器；與所述放大器及穩(wěn)壓基準(zhǔn)源相連，將所述放大器輸出的電壓與穩(wěn)壓基準(zhǔn)源提供的基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較甄別，輸出甄別電壓的甄別閾比較器；與所述甄別閾比較器相連根據(jù)所述甄別電壓輸出負(fù)極性電荷脈沖信號的反符合電路。本實(shí)用新型可以有效地降低測量本底值，同時(shí)又不影響測量能量段信號的采集，同時(shí)能極大的提高對待測能量段射線的探測靈敏度，提高檢測下限。