基于層次聚類的熔解曲線Tm值確定方法、裝置以及電子設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110497502.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113111972A | 公開(公告)日 | 2021-07-13 |
申請公布號 | CN113111972A | 申請公布日 | 2021-07-13 |
分類號 | G06K9/62 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 楊智;李冬;賀賢漢 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州博日科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張萌 |
地址 | 310000 浙江省杭州市濱江區(qū)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)濱安路1192號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請?zhí)峁┝艘环N基于層次聚類的熔解曲線Tm值確定方法、裝置以及電子設(shè)備,涉及熒光定量PCR檢測技術(shù)領(lǐng)域,緩解了熔解曲線小熔點(diǎn)峰與雜峰難以區(qū)分的技術(shù)問題。該方法包括:獲取熔解曲線,并基于所述熔解曲線確定滿足閾值條件的熔解曲線的第一極大值點(diǎn)位置;利用層次聚類算法對各孔所述第一極大值點(diǎn)位置進(jìn)行分析,并根據(jù)分析結(jié)果確定各孔所述第一極大值點(diǎn)位置的聚類類別;基于所述聚類類別查找每類各孔滿足分辨率條件的第二極大值點(diǎn)位置,并將所述第二極大值點(diǎn)位置的值確定為Tm值。 |
