一種熔解曲線濾波方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111269633.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114121165A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114121165A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G16B45/00（2017.01）I 分類 物理
發(fā)明人 楊智;李冬;余海;賀賢漢 申請（專利權(quán)）人 杭州博日科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 董艷芳
地址 310000浙江省杭州市濱江區(qū)高新技術產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)濱安路1192號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N熔解曲線濾波方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)，涉及熒光定量檢測技術領域，包括：采集熒光定量熔解實驗中熒光強度數(shù)據(jù)，對所述熒光強度數(shù)據(jù)進行平滑處理；對平滑后熒光強度數(shù)據(jù)進行三次樣條插值，獲得三次樣條插值曲線；計算三次樣條插值曲線各點的負一階導數(shù)數(shù)值，得到初始熔解曲線；利用MODWT對初始熔解曲線進行濾波處理，獲得濾波后的熔解曲線。針對分辨率較低的熒光強度數(shù)據(jù)，本申請能夠獲得濾波效果好，精度高的熔解曲線。