一種共用金屬源的HVPE裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202122845238.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN216639708U | 公開(公告)日 | 2022-05-31 |
申請公布號 | CN216639708U | 申請公布日 | 2022-05-31 |
分類號 | C30B25/14(2006.01)I;C23C16/448(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 趙毛毛;徐琳;金超 | 申請(專利權)人 | 蘇州納維科技有限公司 |
代理機構 | 蘇州友佳知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 215123江蘇省蘇州市中國(江蘇)自由貿(mào)易試驗區(qū)蘇州片區(qū)蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城西北區(qū)20幢518室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供了一種共用金屬源的HVPE裝置,包括氣源室和若干個生長室,氣源室和生長室之間設置可加熱的第一輸運管道;氣源室包括第一加熱裝置、進氣管道、以及金屬承載舟;生長室包括第二加熱裝置,用于承載襯底的可旋轉支撐件,以及第二輸運管道;氣源室內(nèi)生成的金屬前驅物氣體經(jīng)第一輸運管道輸送至生長室。通過將氣源室與生長室分離,實現(xiàn)一個氣源室同時連若干個生長室,提高生產(chǎn)效率;另外,將輸送源氣體的第二輸運管道設置在生長室而不經(jīng)過氣源室,避免金屬前驅物氣體與源氣體的反應生成物在氣源室內(nèi)壁沉積的不良效果,提高生長室內(nèi)的源氣體濃度,從而獲得高質(zhì)量的半導體外延層。 |
