IP核檢測版圖、版圖設(shè)計(jì)系統(tǒng)及版圖設(shè)計(jì)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210396347.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102880763B 公開（公告）日 2018-07-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN102880763B 申請(qǐng)公布日 2018-07-31
分類號(hào) G06F17/50 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 許丹 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)祖沖之路1399號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種IP核檢測版圖、版圖設(shè)計(jì)系統(tǒng)及版圖設(shè)計(jì)方法，所述IP核檢測版圖，包括：IP核版圖，所述IP核版圖中位于中間位置的版圖被去除，只保留IP核版圖中位于邊緣區(qū)域的版圖，使得所述IP核檢測版圖的形狀為環(huán)形，且所述IP核檢測版圖內(nèi)圈邊緣到IP核檢測版圖外圈邊緣的間距范圍大于或等于當(dāng)前不同電路結(jié)構(gòu)之間的最大間距設(shè)計(jì)規(guī)則。利用所述IP核檢測版圖和周圍電路版圖相結(jié)合進(jìn)行設(shè)計(jì)規(guī)則檢測，如果發(fā)現(xiàn)IP核檢測版圖和周圍電路版圖有沖突，可以立即對(duì)周圍電路版圖進(jìn)行修改，節(jié)省了片上系統(tǒng)的設(shè)計(jì)時(shí)間，且IP核用戶只能獲得邊緣區(qū)域的版圖，無法通過所述IP核檢測版圖獲得整個(gè)IP核的電路或版圖，依然利于保護(hù)IP核的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。