存儲器的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310317888.7 申請日 -
公開（公告）號 CN103366831B 公開（公告）日 2018-08-21
申請公布號 CN103366831B 申請公布日 2018-08-21
分類號 G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 錢亮;任棟梁 申請（專利權(quán)）人 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)祖沖之路1399號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種存儲器的檢測方法。所述存儲器的檢測方法包括：在所述存儲器中寫入預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)；在第一測試條件下對所述存儲器進(jìn)行第一次讀取操作，根據(jù)所述第一次讀取操作的讀取結(jié)果與第一閾值的比較結(jié)果獲得第一讀取數(shù)據(jù)；在所述第一讀取數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相同時(shí)，在第一測試條件下對所述存儲器進(jìn)行第二次讀取操作，根據(jù)所述第二次讀取操作的讀取結(jié)果與第二閾值的比較結(jié)果獲得第二讀取數(shù)據(jù)；根據(jù)所述第二讀取數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果對所述存儲器進(jìn)行判定操作。本發(fā)明存儲器的檢測方法提高了檢測結(jié)果的可靠性，避免了存儲器無法正常使用的問題。