測(cè)試電路和設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202121669145.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN215932065U 公開（公告）日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN215932065U 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 孫海洋;張健;耿霄雄;胡江;鐘鋒浩 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州長川科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 賀才杰
地址 310051浙江省杭州市濱江區(qū)聚才路410號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)實(shí)施例提供的測(cè)試電路和設(shè)備，其中，測(cè)試電路包括電壓源和第一測(cè)試子電路，電壓源的正極與第一待測(cè)IGBT器件的集電極電信號(hào)連接，電壓源的負(fù)極接地；該第一待測(cè)IGBT器件連接于第一測(cè)試子電路內(nèi)，第一待測(cè)IGBT器件的柵極與發(fā)射極短接；第一測(cè)試子電路包括第一電流源，第一電流源的負(fù)極與第一待測(cè)IGBT器件的發(fā)射極電信號(hào)連接，第一電流源的正極接地；如此，第一電流源指示的輸出電流能夠保證實(shí)際流過IGBT的電流在可接受的誤差范圍之內(nèi)，從而解決了相關(guān)技術(shù)中實(shí)際流過IGBT的電流與測(cè)試電流不符導(dǎo)致的對(duì)IGBT進(jìn)行BVCES參數(shù)測(cè)試精度低的問題。