自鎖裝置、自鎖系統(tǒng)及芯片測試分選機
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202122793657.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN216064357U | 公開(公告)日 | 2022-03-18 |
申請公布號 | CN216064357U | 申請公布日 | 2022-03-18 |
分類號 | B07C5/34(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離;分選; |
發(fā)明人 | 徐銘陽;胡沖;鮑軍其;王昭敦 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州長川科技股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 楊萌 |
地址 | 310000浙江省杭州市濱江區(qū)聚才路410號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及半導體測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種自鎖裝置、自鎖系統(tǒng)及芯片測試分選機。該自鎖裝置包括與壓接執(zhí)行機構(gòu)連接的導向件和與載物臺連接的自鎖組件;壓接執(zhí)行機構(gòu)下降至壓接于載物臺時,導向件隨壓接執(zhí)行機構(gòu)下降至與自鎖組件鎖定,導向件與自鎖組件解鎖后,壓接執(zhí)行機構(gòu)能夠上升。該自鎖系統(tǒng)包括上述自鎖裝置。該芯片測試分選機包括上述自鎖系統(tǒng)。本實用新型提供一種自鎖裝置、自鎖系統(tǒng)及芯片測試分選機,緩解現(xiàn)有技術(shù)中存在的芯片測試分選機中壓接執(zhí)行機構(gòu)壓接于芯片上的壓接狀態(tài)的保持不穩(wěn)定的技術(shù)問題。 |
