相位檢測(cè)方法及其相位檢測(cè)電路

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910098631.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111505378B 公開(kāi)（公告）日 2022-07-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN111505378B 申請(qǐng)公布日 2022-07-19
分類號(hào) G01R25/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張柏堅(jiān);王榮諆 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江蘇芯盛智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無(wú)錫市匯誠(chéng)永信專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)北市內(nèi)湖區(qū)堤頂大道二段201號(hào)4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種相位檢測(cè)方法及其相位檢測(cè)電路，尤指一種通過(guò)簡(jiǎn)單電路，于取得相同頻率、且具相位差的輸入訊號(hào)與輸出訊號(hào)后產(chǎn)生一新的倍頻訊號(hào)，供與一相位相同、且頻率相同的參考訊號(hào)比較，進(jìn)一步并通過(guò)過(guò)濾倍頻訊號(hào)與參考訊號(hào)的相位差是否在可接受范圍內(nèi)，判斷其相位是否正確，同時(shí)完成頻率周期的量測(cè)，藉以解決如DLL/DL電路僅能進(jìn)行頻率周期測(cè)試的問(wèn)題，進(jìn)一步能做90度的相位移測(cè)試，可以有效的提升檢測(cè)的準(zhǔn)確率，同時(shí)能運(yùn)行時(shí)的檢測(cè)，而能快速的測(cè)試。