缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111115664.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114004788A 公開（公告）日 2022-02-01
申請公布號 CN114004788A 申請公布日 2022-02-01
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/514（2017.01）I;G06T7/586（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 孫圣;雷軍軍;梁波;范文斌;田代亮;汪幼林;郭棋武;甘波;廖振華;孫湘華 申請（專利權）人 中大（海南）智能科技有限公司
代理機構 深圳市港灣知識產權代理有限公司 代理人 袁斌
地址 571799海南省儋州市洋浦經濟開發(fā)區(qū)鹽田路8號政務服務中心大樓東區(qū)1-6-707號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質，通過獲取待檢測對象的深度信息，深度信息可以可呈現(xiàn)待檢測對象不同位置的距離或表面高度，獲取待檢測對象的采集圖像；待檢測對象上缺陷區(qū)域和非缺陷區(qū)域可能具有不同深度，根據(jù)深度信息將采集圖像劃分為多個圖像分區(qū)，多個圖像分區(qū)對應不同的圖像深度；根據(jù)多個圖像分區(qū)的區(qū)域參數(shù)確定待檢測對象的缺陷信息，從而，可以比較快速地檢測待檢測對象的缺陷。