一種芯片檢測用測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811179315.1 申請日 -
公開（公告）號 CN109375090A 公開（公告）日 2019-02-22
申請公布號 CN109375090A 申請公布日 2019-02-22
分類號 G01R31/28;G01R31/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權(quán)）人 中關(guān)村芯園（北京）有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 526344 廣東省肇慶市廣寧縣橫山鎮(zhèn)白坎村委會門樓村
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片檢測技術(shù)領(lǐng)域，且公開了一種芯片檢測用測試裝置，包括芯片檢測臺，所述芯片檢測臺的頂端固定安裝有固定桿，所述芯片檢測臺的頂端固定安裝有支架，所述支架的數(shù)量為兩個，兩個所述支架以芯片檢測臺的軸心為中心對稱分布，兩個所述支架的內(nèi)部均活動連接有滾動轉(zhuǎn)筒。通過芯片放置箱的內(nèi)部放置有芯片，芯片經(jīng)液壓桿頂端的推板，使得芯片放置箱內(nèi)部的芯片推至兩個銜接板之間，配合傳動箱內(nèi)部的電動機帶動轉(zhuǎn)盤的旋轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)盤的外側(cè)面固定連接有轉(zhuǎn)桿與旋轉(zhuǎn)盤外側(cè)面的搭接板相接觸，從而使得搭接板進行定時轉(zhuǎn)動，又配合第一傳動帶帶動輸送帶的旋轉(zhuǎn)，從而實現(xiàn)輸送帶的定時轉(zhuǎn)動，避免輸送帶的持續(xù)轉(zhuǎn)動，對芯片的檢測不夠全面。