用于提高工業(yè)質(zhì)檢準(zhǔn)確率的方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110071345.6 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN112734742B 公開（公告）日 2021-11-16
申請公布號(hào) CN112734742B 申請公布日 2021-11-16
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 杭天欣;馬元巍;陳紅星;王克賢;潘正頤;侯大為 申請（專利權(quán)）人 上海微億智造科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊;郭國中
地址 201100上海市閔行區(qū)元江路5500號(hào)第1幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于提高工業(yè)質(zhì)檢準(zhǔn)確率的方法和系統(tǒng)，包括步驟甲：訓(xùn)練得到檢測模型；步驟乙：利用所述檢測模型進(jìn)行推理。本發(fā)明采用固定拍攝模板，加上語義分割圖，實(shí)現(xiàn)對過檢缺陷進(jìn)行篩選。本發(fā)明可以代替漫長的迭代方案，僅需少量的迭代，就可以降低過檢缺陷的數(shù)量，進(jìn)而改善檢測模型的結(jié)果。