指紋傳感器芯片測試機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021692742.2 申請日 -
公開（公告）號 CN212781114U 公開（公告）日 2021-03-23
申請公布號 CN212781114U 申請公布日 2021-03-23
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李英才 申請（專利權）人 深圳市華宇福保半導體有限公司
代理機構 深圳市宏德雨知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 李捷
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)福保街道福保社區(qū)市花路25號利保義生物工程大樓六層B井,E井廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種指紋傳感器芯片測試機構，其包括固定架、測試板、測試支架和驅動裝置，固定架包括底座和連接架，連接架可滑動的連接在底座上，測試板連接在連接架上方，內部設置有腔室，腔室用于放置指紋傳感器芯片，下側設置有導向板，導向板上設置有多個導向孔，測試支架設置在測試板下方，包括連接桿和橡膠頭，多個橡膠頭連接在連接桿上方，橡膠頭用于從導向孔伸入腔室給指紋傳感器芯片測試，驅動裝置設置在固定架一側，連接測試支架，用于驅動測試支架移動給指紋傳感器芯片測試。本實用新型的指紋傳感器芯片測試機構一個橡膠頭同時測試兩個芯片，測試支架一次同時對同一縱向的芯片測試，測試效率高。??