一種靜態(tài)8K超高清晰度測(cè)試方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110909796.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113709449A 公開(kāi)（公告）日 2021-11-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN113709449A 申請(qǐng)公布日 2021-11-26
分類號(hào) H04N17/00（2006.01）I 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 吳蔚華;孫三;陳宇;何永剛;阮衛(wèi)泓;劉志剛;韓正濤 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京泰瑞特檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 工業(yè)和信息化部電子專利中心 代理人 張然
地址 100015北京市朝陽(yáng)區(qū)酒仙橋北路乙7號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種靜態(tài)8K超高清晰度測(cè)試方法及裝置，本發(fā)明通過(guò)設(shè)計(jì)得到8K超高清晰度復(fù)合測(cè)試圖，然后通過(guò)對(duì)被測(cè)設(shè)備上所顯示的8K超高清晰度復(fù)合測(cè)試圖是像素位置的測(cè)試，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)8K超高清顯示系統(tǒng)的清晰度進(jìn)行有效測(cè)試，以解決現(xiàn)有技術(shù)中不能實(shí)現(xiàn)對(duì)8K超高清顯示系統(tǒng)的清晰度進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。