一種測量可變電阻阻值的電路及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510365607.4 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN104897964B 公開（公告）日 2018-03-09
申請公布號(hào) CN104897964B 申請公布日 2018-03-09
分類號(hào) G01R27/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李須真;周勇于 申請（專利權(quán)）人 有鵬文化教育科技（深圳）集團(tuán)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 李須真;周勇于;深圳市智翔天宇科技有限公司;有鵬文化教育科技（深圳）集團(tuán)有限公司
地址 332500 江西省九江市湖口縣蓮灣小區(qū)1棟二單元204
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明的目的在于提供一種測量可變電阻阻值的電路及方法，包括單片機(jī)、電容、待測可變電阻Rx及校準(zhǔn)電阻R1，所述電容C的一端與所述單片機(jī)GP0連接，C另一端接地；所述R1的一端與C的一端連接，所述R1的另一端與所述單片機(jī)GP1連接；所述Rx的一端和單片機(jī)GP2連接；待Rx另一端與R1的另一端連接。本發(fā)明通過分別測量R1和C的充放電回路的充電時(shí)間T1和Rx和R1串聯(lián)后和C的充放電回路的充電時(shí)間T2，并通過Rx =R1*(T2 – T1)/T1的方式來求取Rx的阻值。該方法在解決了目前公知的通過測量電容充放電時(shí)間測量可變電阻阻值的電路中的測量精度和測量時(shí)間的矛盾，對(duì)較小的可變電阻也能得到一個(gè)較好的測量結(jié)果。