測量激光器芯片頻率響應(yīng)的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921353269.2 申請日 -
公開（公告）號 CN211263684U 公開（公告）日 2020-08-14
申請公布號 CN211263684U 申請公布日 2020-08-14
分類號 G01R31/26(2014.01)I 分類 -
發(fā)明人 楊重英;蘇輝;薛正群;吳林福生 申請（專利權(quán)）人 福州中科光芯科技有限公司
代理機構(gòu) 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 郭東亮;蔡學(xué)俊
地址 350000福建省福州市鼓樓區(qū)軟件大道89號福州軟件園E區(qū)14號樓4層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提出測量激光器芯片頻率響應(yīng)的裝置，用于測試激光器芯片樣品的頻率響應(yīng)，所述裝置包括網(wǎng)絡(luò)分析儀、電源、光電探測器、測試臺；所述測試臺處設(shè)有探針和耦合光纖；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀經(jīng)探針與測試臺處的芯片樣品相接以向芯片樣品輸出測試信號并對芯片樣品供電；所述光電探測器經(jīng)耦合光纖接收芯片樣品的輸出光信號并將其轉(zhuǎn)換為電信號；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀與光電探測器相通以接收轉(zhuǎn)換后的電信號并形成頻率響應(yīng)曲線；本實用新型能對激光器芯片樣品進行測試。??