基于IIC與SPI時序存儲器動態(tài)老化系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810081627.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110097918A 公開（公告）日 2019-08-06
申請公布號 CN110097918A 申請公布日 2019-08-06
分類號 G11C29/56 分類 信息存儲;
發(fā)明人 李澤新;尹楠 申請（專利權(quán)）人 西安西測測試技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 710023 陜西省西安市蓮湖區(qū)豐禾路275號太奧廣場商業(yè)區(qū)11號樓2單元22308室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及老化技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及基于IIC與SPI時序存儲器動態(tài)老化系統(tǒng)。主控模塊采用單片機作為控制芯片，觸感器模塊采用DS18B20作為溫度傳感器反饋溫度，報警電路模塊包含蜂鳴器，通信模塊能夠?qū)崿F(xiàn)通信；所述的主控模塊通信連接著顯示模塊、輸入按鍵模塊、傳感器模塊、報警電路模塊、通信模塊、繼電器模塊；主控模塊的算法算法采用PID溫度控制，預(yù)測誤差變化趨勢，從而可以實現(xiàn)超前調(diào)節(jié)；經(jīng)PID控制以后，使得整個老化過程中溫度得以有效控制。能夠做到高溫動態(tài)老化，能夠使得產(chǎn)品達(dá)到國軍標(biāo)對動態(tài)老化的標(biāo)準(zhǔn)要求，比如元器件可以耐高溫，科學(xué)性更好，且能實現(xiàn)動態(tài)反饋，智能控制。