一種芯片老化檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821823956.1 申請日 -
公開（公告）號 CN209311627U 公開（公告）日 2019-08-27
申請公布號 CN209311627U 申請公布日 2019-08-27
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李澤新 申請（專利權(quán)）人 西安西測測試技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 710023 陜西省西安市蓮湖區(qū)豐禾路275號太奧廣場商業(yè)區(qū)11號樓2單元22308室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及芯片老化檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其為一種芯片老化檢測裝置，包括檢測箱，所述檢測箱頂端左側(cè)通過轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動連接有箱蓋，所述檢測箱底端內(nèi)側(cè)固定連接有第一支架，所述第一支架頂端固定連接有第一滑軌，所述檢測箱底端內(nèi)側(cè)滑動連接有第二支架，所述第二支架頂端固定連接有第二滑軌，所述第一滑軌外側(cè)與放置臺滑動連接，所述放置臺內(nèi)側(cè)與第二滑軌滑動連接，本實用新型中，通過設(shè)置的第一滑軌、第二滑軌、放置臺、第一彈簧和第二彈簧，可以適應(yīng)不同大小的厚度的電路板，方便在芯片運行時，進行老化檢測，且同時可以監(jiān)測到芯片運行的狀態(tài)，提高檢測效果，而且安裝與拆卸十分方便，操作簡單，提升工作效率。