一種用于檢測蓋膜后的芯片字符的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110751399.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113433068A 公開（公告）日 2021-09-24
申請公布號 CN113433068A 申請公布日 2021-09-24
分類號 G01N21/01（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張祥明;劉圣祥;萬求 申請（專利權(quán)）人 合肥圖迅電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京知聯(lián)天下知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 張陸軍;張迎新
地址 230031安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園一期C4棟5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種用于檢測蓋膜后的芯片字符的檢測裝置，檢測裝置包括有第一發(fā)光組件、光路改變組件以及拍攝組件；第一發(fā)光組件，用于對芯片進行照明；光路改變組件，用于改變經(jīng)過照明后，芯片的成像光路；拍攝組件，用于拍攝成像光路改變后，芯片的圖像。本發(fā)明通過光路改變組件，改變經(jīng)過照明后，芯片的成像光路，從而解決了字符顯示效果不佳的芯片，難以檢測字符的問題。