一種用于檢測(cè)蓋膜后的芯片字符的檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110751399.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113433068A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113433068A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-24 |
| 分類號(hào) | G01N21/01（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張祥明;劉圣祥;萬(wàn)求 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 合肥圖迅電子科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京知聯(lián)天下知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 張陸軍;張迎新 |
| 地址 | 230031安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號(hào)創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園一期C4棟5層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種用于檢測(cè)蓋膜后的芯片字符的檢測(cè)裝置，檢測(cè)裝置包括有第一發(fā)光組件、光路改變組件以及拍攝組件；第一發(fā)光組件，用于對(duì)芯片進(jìn)行照明；光路改變組件，用于改變經(jīng)過(guò)照明后，芯片的成像光路；拍攝組件，用于拍攝成像光路改變后，芯片的圖像。本發(fā)明通過(guò)光路改變組件，改變經(jīng)過(guò)照明后，芯片的成像光路，從而解決了字符顯示效果不佳的芯片，難以檢測(cè)字符的問(wèn)題。 |
