用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110235766.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113160128A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113160128A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 鄭飛;林貴成;閆鋒;李林林 申請（專利權(quán)）人 合肥圖迅電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 戴冬瑾
地址 230088 安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園一期C4棟5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質(zhì)，用于LED的缺陷檢測方法包括以下步驟：以深度卷積殘差網(wǎng)絡(luò)和特征金字塔網(wǎng)絡(luò)作為特征提取器構(gòu)建RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；構(gòu)建LED訓(xùn)練圖像集，并對LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像進行缺陷標(biāo)注，得到對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息；利用LED訓(xùn)練圖像集中的各LED訓(xùn)練圖像及其對應(yīng)的缺陷目標(biāo)信息，訓(xùn)練RetinaNet網(wǎng)絡(luò)；利用訓(xùn)練好的RetinaNet網(wǎng)絡(luò)，對獲取的膠后LED圖像進行缺陷檢測。由此，該用于LED的缺陷檢測方法，可以實現(xiàn)根據(jù)膠后LED產(chǎn)品的圖像對膠后LED產(chǎn)品上的缺陷進行檢測。