顆粒物濃度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821962406.8 申請日 -
公開（公告）號 CN210037540U 公開（公告）日 2020-02-07
申請公布號 CN210037540U 申請公布日 2020-02-07
分類號 G01N15/06 分類 測量；測試;
發(fā)明人 龍光乾 申請（專利權(quán)）人 重慶川儀分析儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 呂小琴
地址 400700 重慶市北碚區(qū)人民村1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種顆粒物濃度檢測裝置，包括測量單元、參比修正單元以及與分別與所述測量單元和參比修正單元連接的控制器；所述測量單元包括向待測顆粒發(fā)射激光的光源以及用于接收待測粉塵顆粒散射出的散射光信號的第二光探頭，并將所述散射光信號轉(zhuǎn)換成測量電信號后發(fā)送至所述控制器；所述參比修正單元包括第一光探頭和設(shè)置用于將所述光源分成兩條光路的分光鏡；經(jīng)所述分光鏡分出的其中一束光發(fā)射向待測粉塵顆粒，另一束光通過第一光探頭接收后轉(zhuǎn)換成參比電信號后發(fā)送至所述控制器；所述控制器分別與所述第一光探頭和第二光探頭連接，用于接收所述參比電信號和測量電信號，并通過所述參比電信號和測量電信號得到粉塵顆粒濃度信號。