功率MOSFET及其制造方法和電子設備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011594199.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112635568A | 公開(公告)日 | 2021-04-09 |
申請公布號 | CN112635568A | 申請公布日 | 2021-04-09 |
分類號 | H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊東林;陳文高;劉俠;潘志勝 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州邁志微半導體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京中知法苑知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李明;趙吉陽 |
地址 | 201306 上海市浦東新區(qū)南匯新城鎮(zhèn)海洋一路333號1號樓、2號樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本公開提供了一種功率MOSFET及其制造方法和電子設備。所述功率MOSFET包括:硅襯底以及所述硅襯底上的硅外延層;多個溝槽,間隔排列且形成在所述硅外延層內(nèi);源極多晶硅,形成在所述多個溝槽下部內(nèi)且被場氧層包圍;柵極多晶硅,形成在所述多個溝槽上部內(nèi)且通過高密度二氧化硅與源極多晶硅間隔開;所述柵極多晶硅四周環(huán)繞有柵極氧化層;多個第一體區(qū),間隔排列且位于所述多個溝槽之間;多個源區(qū),位于所述多個第一體區(qū)上方;多個接觸孔,所述多個接觸孔從所述硅外延層的頂表面延伸至所述第一體區(qū),所述多個接觸孔與所述多個溝槽自對準形成。 |
