一種光電探測(cè)器自動(dòng)化批量測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201620798888.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN205898176U 公開(kāi)（公告）日 2017-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN205898176U 申請(qǐng)公布日 2017-01-18
分類號(hào) G01D18/00(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 徐青;李開(kāi)富;王麟;楊健;謝慶國(guó) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 鄂州市昌達(dá)投資控股集團(tuán)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 430074 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)光谷大道58號(hào)紅桃K電商辦公室第二層189號(hào)（Y）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公布了一種光電探測(cè)器自動(dòng)化批量測(cè)試系統(tǒng)，包括控制臺(tái)、測(cè)試導(dǎo)軌、芯片載盤、精密震動(dòng)盤、自動(dòng)貼片機(jī)、光源、自動(dòng)編帶機(jī)、測(cè)試設(shè)備和預(yù)留測(cè)試設(shè)備。在控制臺(tái)的控制下，精密振動(dòng)盤和自動(dòng)貼片機(jī)相互配合，將光電探測(cè)器按照特定的方向依次放入芯片載盤中?？刂婆_(tái)控制測(cè)試導(dǎo)軌精確步進(jìn)，并控制光源產(chǎn)生合適特性的光，進(jìn)而控制測(cè)試設(shè)備完成對(duì)光電探測(cè)器光電特性的測(cè)試?？刂婆_(tái)最后標(biāo)記不合格的光電探測(cè)器，并控制自動(dòng)編帶機(jī)將合格的光電探測(cè)器成盤裝載。本實(shí)用新型的有益之處在于，可以對(duì)大量光電探測(cè)器同時(shí)進(jìn)行自動(dòng)化批量測(cè)試；可以快速高效地實(shí)現(xiàn)多個(gè)光電探測(cè)器的電學(xué)量、光學(xué)量的測(cè)量；可以方便地實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試量的快速統(tǒng)計(jì)分析。