一種用于光電探測器批量測試的載盤及載盤系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620801649.8 申請日 -
公開（公告）號 CN205898177U 公開（公告）日 2017-01-18
申請公布號 CN205898177U 申請公布日 2017-01-18
分類號 G01D18/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李開富;徐青;王麟;楊健 申請（專利權）人 鄂州市昌達投資控股集團有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 430074 湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)光谷大道58號紅桃K電商辦公室第二層189號（Y)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種用于光電探測器批量測試的載盤及載盤系統(tǒng)，該批量測試載盤包括多個陣列式分布的芯片槽，以及氣孔、抽氣孔、信號端金屬樁、信號端金屬引線、信號輸出觸槽、電源端金屬樁、電源端金屬引線和電源輸入觸槽。所述芯片槽、氣孔以及抽氣孔用以固定待測光電探測器；所述信號端金屬樁、信號端金屬引線以及信號輸出觸槽用以將待測光電探測器的測量信號讀出；所述電源端金屬樁、電源端金屬引線以及電源輸入觸槽用以為待測光電探測器提供供電。所述批量測試載盤輔以信號輸出接口和電源輸入接口，構成了本實用新型所提供的批量測試載盤系統(tǒng)。本實用新型能夠對成百上千個光電探測器同時進行快速高效的測試；并且可以方便地實現(xiàn)多個測試量的快速讀取，進而方便地對測試量進行快速地統(tǒng)計分析。