一種用于光電探測(cè)器批量測(cè)試的載盤及載盤系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201620801649.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN205898177U 公開(公告)日 2017-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN205898177U 申請(qǐng)公布日 2017-01-18
分類號(hào) G01D18/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 李開富;徐青;王麟;楊健 申請(qǐng)(專利權(quán))人 鄂州市昌達(dá)投資控股集團(tuán)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 430074 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷大道58號(hào)紅桃K電商辦公室第二層189號(hào)(Y)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于光電探測(cè)器批量測(cè)試的載盤及載盤系統(tǒng),該批量測(cè)試載盤包括多個(gè)陣列式分布的芯片槽,以及氣孔、抽氣孔、信號(hào)端金屬樁、信號(hào)端金屬引線、信號(hào)輸出觸槽、電源端金屬樁、電源端金屬引線和電源輸入觸槽。所述芯片槽、氣孔以及抽氣孔用以固定待測(cè)光電探測(cè)器;所述信號(hào)端金屬樁、信號(hào)端金屬引線以及信號(hào)輸出觸槽用以將待測(cè)光電探測(cè)器的測(cè)量信號(hào)讀出;所述電源端金屬樁、電源端金屬引線以及電源輸入觸槽用以為待測(cè)光電探測(cè)器提供供電。所述批量測(cè)試載盤輔以信號(hào)輸出接口和電源輸入接口,構(gòu)成了本實(shí)用新型所提供的批量測(cè)試載盤系統(tǒng)。本實(shí)用新型能夠?qū)Τ砂偕锨€(gè)光電探測(cè)器同時(shí)進(jìn)行快速高效的測(cè)試;并且可以方便地實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試量的快速讀取,進(jìn)而方便地對(duì)測(cè)試量進(jìn)行快速地統(tǒng)計(jì)分析。