用于實(shí)測(cè)實(shí)量的測(cè)量方法及激光雷達(dá)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110719750.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113702985A 公開（公告）日 2021-11-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN113702985A 申請(qǐng)公布日 2021-11-26
分類號(hào) G01S17/06（2006.01）I;G01S17/88（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李輝;金海建;韓國(guó)軍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 盎銳（上海）信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海知義律師事務(wù)所 代理人 劉峰
地址 201703上海市青浦區(qū)滬青平公路3938號(hào)1號(hào)樓206
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于實(shí)測(cè)實(shí)量的測(cè)量方法及激光雷達(dá)，所述測(cè)量方法包括：在待測(cè)區(qū)域的墻體的標(biāo)高線處設(shè)置一反射標(biāo)記；通過(guò)激光雷達(dá)掃描所述待測(cè)區(qū)域獲取待測(cè)區(qū)域的三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)，三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)包括反射率；利用三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成待測(cè)區(qū)域的房間模型；根據(jù)反射標(biāo)記的反射率與墻體的反射率差異查找房間模型中的反射標(biāo)記的位置以獲取標(biāo)高線在房間模型中的位置。針對(duì)國(guó)內(nèi)實(shí)測(cè)實(shí)量規(guī)范需要的主要尺寸測(cè)量需求，能夠代替?zhèn)鹘y(tǒng)低效率的測(cè)量方法，同時(shí)建立測(cè)量項(xiàng)目管理和數(shù)據(jù)管理，進(jìn)一步提供整體作業(yè)效率，提升行業(yè)信息化程度。