基于回波波形累加和波形采樣的激光測距系統

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201822089739.0 申請日 -
公開（公告）號 CN209417298U 公開（公告）日 2019-09-20
申請公布號 CN209417298U 申請公布日 2019-09-20
分類號 G01S17/08（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 羅遠; 賀巖; 胡善江 申請（專利權）人 上海大恒光學精密機械有限公司
代理機構 上海恒慧知識產權代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 上海大恒光學精密機械有限公司
地址 201800 上海市嘉定區(qū)清河路390號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于回波波形累加和波形采樣的激光測距系統。該激光測距系統由主控電路、激光光源組件、發(fā)射接收光學組件、激光探測電路和高速信號采集電路組成。該激光測距系統將光子數分辨探測與高速數據采集相結合，實現了高靈敏度、高精度度、大動態(tài)范圍的激光測距，本實用新型在實現遠距離目標探測的同時，兼顧近距離目標的高精度測距，具有體積小、成本低、探測動態(tài)范圍大、測距精度高、可實現多回波探測等優(yōu)點。