芯片電路功耗測量電路及方法、芯片
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911309422.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110907807B | 公開(公告)日 | 2022-01-25 |
申請公布號 | CN110907807B | 申請公布日 | 2022-01-25 |
分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 黃強;金軍貴 | 申請(專利權(quán))人 | 成都海光微電子技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人 | 彭久云 |
地址 | 610093四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)天府大道中段1366號2棟天府軟件園E5座12層23-32號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種芯片功耗測量電路、芯片功耗測量方法及芯片。該芯片功耗測量電路包括:電壓檢測電路,包括第一電壓檢測器,被配置為根據(jù)第一輸入電壓產(chǎn)生第一輸入電壓檢測值;單位電流獲得電路,包括電流數(shù)值查找表,被配置為獲取第一輸入電壓檢測值及基于第一輸入電壓檢測值利用電流數(shù)值查找表獲得單位電流;倍乘系數(shù)獲取電路,被配置為產(chǎn)生倍乘系數(shù);以及芯片功耗計算電路,被配置為獲得倍乘系數(shù)、單位電流、第一輸入電壓檢測值,并使用倍乘系數(shù)、單位電流、第一輸入電壓檢測值進行計算以用于得到功耗。該測量電路可以設(shè)置在芯片內(nèi),在芯片內(nèi)測量各功能電路的功耗。 |
