一種在給定電容集合中尋找最優(yōu)替代目標(biāo)電容的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011639451.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112668275A 公開（公告）日 2021-04-16
申請公布號 CN112668275A 申請公布日 2021-04-16
分類號 G06F30/392;G06F30/398 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蔣歷國;凌峰;王剛;代文亮 申請（專利權(quán)）人 芯和半導(dǎo)體科技（上海）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海樂泓專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 蘇杰
地址 200000 上海市浦東新區(qū)納賢路60弄5號401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明的一種在給定電容集合中尋找最優(yōu)替代目標(biāo)電容的方法，包括如下步驟:步驟S1:選擇目標(biāo)電容組合；步驟S2：計算目標(biāo)電容組合的并聯(lián)阻抗：步驟S3：選擇替代電容組合；步驟S4：設(shè)置組合條件：步驟S5：產(chǎn)生組合條件候選組合步驟S6：計算每個候選組合的并聯(lián)阻抗曲線：步驟S7:與目標(biāo)阻抗曲線進(jìn)行比較:步驟S8:對所有符合條件的組合按照差異值排序，找到替代組合方案:步驟S9:根據(jù)選擇生成曲線對比圖?？梢钥焖僭谀硞€指定的電容集合中通過設(shè)定電容的限制條件找到與某個指定電容或電容組合最接近的阻抗參數(shù)的那些特定的組合，極大提高了設(shè)計效率，并為設(shè)計提供參考，具有極高的實用價值。