一種在給定電容集合中尋找最優(yōu)替代目標(biāo)電容的方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011639451.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112668275A | 公開(公告)日 | 2021-04-16 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112668275A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-16 |
分類號(hào) | G06F30/392;G06F30/398 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 蔣歷國(guó);凌峰;王剛;代文亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 芯和半導(dǎo)體科技(上海)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海樂泓專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 蘇杰 |
地址 | 200000 上海市浦東新區(qū)納賢路60弄5號(hào)401室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明的一種在給定電容集合中尋找最優(yōu)替代目標(biāo)電容的方法,包括如下步驟:步驟S1:選擇目標(biāo)電容組合;步驟S2:計(jì)算目標(biāo)電容組合的并聯(lián)阻抗:步驟S3:選擇替代電容組合;步驟S4:設(shè)置組合條件:步驟S5:產(chǎn)生組合條件候選組合步驟S6:計(jì)算每個(gè)候選組合的并聯(lián)阻抗曲線:步驟S7:與目標(biāo)阻抗曲線進(jìn)行比較:步驟S8:對(duì)所有符合條件的組合按照差異值排序,找到替代組合方案:步驟S9:根據(jù)選擇生成曲線對(duì)比圖??梢钥焖僭谀硞€(gè)指定的電容集合中通過設(shè)定電容的限制條件找到與某個(gè)指定電容或電容組合最接近的阻抗參數(shù)的那些特定的組合,極大提高了設(shè)計(jì)效率,并為設(shè)計(jì)提供參考,具有極高的實(shí)用價(jià)值。 |
