測試訊號隔離探針座和電路晶片測試組件

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021305503.7 申請日 -
公開（公告）號 CN212872763U 公開（公告）日 2021-04-02
申請公布號 CN212872763U 申請公布日 2021-04-02
分類號 G01R1/04(2006.01)I;G01R1/18(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 洪敬文 申請（專利權(quán)）人 卓越（陽信）科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 251800山東省濱州市陽信縣經(jīng)濟開發(fā)區(qū)工業(yè)二路377號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種測試訊號隔離探針座和電路晶片測試組件，屬于電路晶片測試的技術(shù)領(lǐng)域，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中電路晶片測試裝置測試探針中信號相互干擾的問題，該測試訊號隔離探針座包括用于連接電路晶片和測試機的若干半導(dǎo)體IC測試探針、設(shè)置有若干供半導(dǎo)體IC測試探針一一對應(yīng)插入插孔的插座殼以及若干一一對應(yīng)于所述半導(dǎo)體IC測試探針以電磁屏蔽對應(yīng)半導(dǎo)體IC測試探針產(chǎn)生電磁訊號的金屬管。在使用該探針座進(jìn)行電路晶片測試時，金屬管能夠屏蔽半導(dǎo)體IC測試探針由于流過通訊信號產(chǎn)生的電磁訊號，即半導(dǎo)體IC測試探針之間不會相互干擾，從而提高了測試過程的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。該電路晶片測試組件包括該測試訊號隔離探針座。??