測(cè)試訊號(hào)隔離探針座和電路晶片測(cè)試組件
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021305503.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212872763U | 公開（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212872763U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號(hào) | G01R1/04(2006.01)I;G01R1/18(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 洪敬文 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 卓越（陽(yáng)信）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 251800山東省濱州市陽(yáng)信縣經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)工業(yè)二路377號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試訊號(hào)隔離探針座和電路晶片測(cè)試組件，屬于電路晶片測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中電路晶片測(cè)試裝置測(cè)試探針中信號(hào)相互干擾的問(wèn)題，該測(cè)試訊號(hào)隔離探針座包括用于連接電路晶片和測(cè)試機(jī)的若干半導(dǎo)體IC測(cè)試探針、設(shè)置有若干供半導(dǎo)體IC測(cè)試探針一一對(duì)應(yīng)插入插孔的插座殼以及若干一一對(duì)應(yīng)于所述半導(dǎo)體IC測(cè)試探針以電磁屏蔽對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體IC測(cè)試探針產(chǎn)生電磁訊號(hào)的金屬管。在使用該探針座進(jìn)行電路晶片測(cè)試時(shí)，金屬管能夠屏蔽半導(dǎo)體IC測(cè)試探針由于流過(guò)通訊信號(hào)產(chǎn)生的電磁訊號(hào)，即半導(dǎo)體IC測(cè)試探針之間不會(huì)相互干擾，從而提高了測(cè)試過(guò)程的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。該電路晶片測(cè)試組件包括該測(cè)試訊號(hào)隔離探針座。?? |
