基于差分的極片缺陷檢測方法、裝置、設備及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111083784.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113538430B 公開（公告）日 2021-12-21
申請公布號 CN113538430B 申請公布日 2021-12-21
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06T5/20（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 牛杰一 申請（專利權(quán)）人 深圳新視智科技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 廣東靈頓知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 賴耀華
地址 518000廣東省深圳市羅湖區(qū)蓮塘街道鵬興社區(qū)鵬興路2號鵬基工業(yè)區(qū)710棟六層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例公開了一種基于差分的極片缺陷檢測方法、裝置、設備及介質(zhì)，其中，所述方法包括：獲取待檢測極片的待檢測圖像，所述待檢測圖像為灰度圖像；在水平方向和豎直方向下，分別計算待檢測圖像的每一行/列包含的像素點的灰度差值，基于灰度差值確定水平/豎直背景圖像，根據(jù)待檢測圖像與水平/豎直背景圖像之間的灰度差值的絕對值的確定水平/豎直差分圖像，通過對水平/豎直差分圖像進行二值化處理確定水平/豎直缺陷圖像；根據(jù)水平缺陷圖像和所述豎直缺陷圖像，生成目標缺陷圖像，所述目標缺陷圖像中包含了檢測到的待檢測極片中的缺陷。采用本發(fā)明，可以提高鋰離子電池極片的缺陷檢測的準確率，提高極片和鋰離子電池的產(chǎn)品質(zhì)量。